Zeta電位與粒徑分析儀是一種集納米顆粒粒徑分布和表面Zeta電位測量于一體的高精度分析儀器，廣泛應用于制藥、生物技術、納米材料、化妝品、食品及化工等領域，用于評估膠體體系的穩定性、分散性及界面特性。

　　該儀器主要基于兩種核心技術：動態光散射（DLS）和激光多普勒電泳光散射（ELS）。在粒徑測量中，激光照射懸浮于液體中的納米顆粒，因布朗運動導致散射光強度隨時間波動，通過相關算法計算擴散系數，并依據斯托克斯-愛因斯坦方程反推出粒徑分布，典型檢測范圍為0.6 nm至10μm。而在Zeta電位測定中，儀器對樣品施加電場，帶電顆粒在電場作用下發生定向遷移（電泳），通過激光多普勒技術檢測其遷移速度，進而計算出滑動面上的電勢——即Zeta電位。Zeta電位的絕對值越高（通常>±30 mV），顆粒間靜電斥力越強，體系越穩定；反之則易發生聚集或沉降。

　　Zeta電位與粒徑分析儀的組成部分：

　　一、光學系統（核心檢測單元）

　　激光光源

　　常用半導體激光器（633nm/532nm），單色性好、穩定性高，提供入射光源。

　　光路準直組件

　　透鏡、狹縫、偏振片、衰減片，把激光準直、勻光后射入樣品池。

　　散射光檢測器

　　光電倍增管PMT/雪崩光電二極管APD，多角度散射接收（常用90°、173°后向散射），捕捉顆粒布朗運動散射光信號。

　　電泳光路模塊

　　專門用于Zeta電位測試，配套相位分析光散射PALS檢測光路，微弱電泳位移信號高精度采集。

　　二、樣品測量系統

　　樣品池/比色皿

　　石英流通池、一次性塑料樣品池、折疊毛細管電泳池；耐酸堿、透光性好。

　　電極組件

　　鍍金/鉑電極、平行板電極，給樣品施加交變電場，讓帶電顆粒產生電泳運動，是測Zeta電位關鍵部件。

　　樣品恒溫腔體

　　帕爾貼溫控模塊，精準控溫（一般0～90℃），消除溫度對粒徑、電泳遷移率的影響。

　　自動進樣/稀釋單元（高配機型）

　　自動稀釋、微量進樣、循環進樣，適合高濃度樣品、批量樣品測試。

　　三、電路與硬件控制系統

　　高壓/變頻電場驅動模塊

　　為電極提供穩定可調電壓、交變電場，控制顆粒電泳速度。

　　信號放大與相關器

　　把微弱散射光電信號放大，數字相關器實時計算光強自相關函數，換算顆粒粒徑分布。

　　主控與采集電路板

　　整機時序控制、信號采集、AD模數轉換、各模塊通訊聯動。

　　運動調節機構

　　光路微調電機、樣品池定位機構，自動校準光路位置，保證重復性。

　　四、軟件與數據處理系統

　　上位機控制軟件

　　參數設置：測試時間、溫度、角度、電場強度、循環次數。

　　算法解析模塊

　　粒徑：DLS反演算法（CONTIN、NNLS），計算平均粒徑、PDI多分散系數

　　Zeta電位：由電泳遷移率→亨利公式→換算Zeta電位、電位分布

　　數據輸出與報表

　　原始曲線、粒徑分布圖、Zeta電位分布圖、數據保存、導出Excel/Word、校準記錄管理。

　　五、輔助配套系統

　　防塵防震機架

　　整機減震底座、光學平臺，隔絕外界震動干擾（DLS對震動極敏感）。

　　屏蔽與防干擾結構

　　電磁屏蔽腔體，避免外界電場、磁場干擾微弱電泳和光散射信號。

　　清洗與廢液收集單元

　　管路清洗、廢液回收，防止交叉污染，適配多批次樣品連續測試。